F2-RT 光譜反射和透射測量系統是美國Filmetrics新推出的物超所值同時測量反射率和透射率的儀器。

Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標光譜與多條反射光譜比較 – 自動評估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數結論。大 大的減少了人為造成的讀數和計算誤差。

Filmetrics 自動化厚度測量儀能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度，一般較短的波長 （例如， F50-UV） 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics 薄膜厚度測量儀F10-HC薄膜測量系統，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件*的先進模擬演算法的設計，能夠在厚膜中測量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics薄膜厚度測量儀F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。

Thetametrisis自動化光學膜厚儀 FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測量儀是一種緊湊的臺式工具，適用于自動測繪晶圓片上的涂層厚度。FR-Scanner 可以快 速和準確測量薄膜特性:厚度，折射率，均勻性，顏色等。真空吸盤可應用于任何直徑或其他形狀的樣片。